Revista Española de Electrónica 2007
Idioma: Español Detalles de publicación: Barcelona (España): Ediciones Técnicas Redes S.L., 2007.Descripción: Páginación variada ilustraciones, 31 x 21 cmISSN:- 0482-6396
- Control local y remoto de variadores. Filtros de banda eliminada para líneas acopladas en bandas Ku/Ka
- Como configurar un sistema LXI. Identificación y análisis del anonimato en comunicaciones electrónicas. Como explotar el potencial de los servicios de datos usando la QoS de la red
- Diez cosas que debe saber sobre IVI-COM. HSPA: Diseño de amplificadores de potencia. La alta definición, es.. ¿Conveniente, deseable o necesaria?
- Tecnologías agiles
- El sistema OFDM. Diseño de sistema grafico para sistema de control embebido
- Tecnología biométrica para lossistemas de identificación electrónicos
- Nuevos métodos de prueba para la generación de señales de RF/microondas de conmutación rápida
- Detector de tensión continua bipolar. Los modernos analizadores de redes vectoriales. Arquitectura de alimentación factorizda y V.I Chips
- El boom de WIMAX: no es todo magia. Un solo terminal para todas las necesidades. Instrumentación virtual para test de próxima generación. Uso del análisis de señalización en pruebas y control de la red UMTS
- El software gráfico de national instruments LabVIEW 8.5
- 621.381
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N.634 Sep/2007 -- Novedades del sector -- Arrow-Iberia: ultimas novedades presentadas por sus distribuidas -- Next-for añade nuevos productos a su ya completa cartera -- Nuevas lamparas LED para iluminación general -- Nuevos analizadores lógicos y de buses de Ditecom -- Prestaciones + excelencia + innovación - costes = nuevos desarrollos de aligent -- Promax presenta sus novedades en IBC Amsterdam y Broadcast Madrid -- Ultimas novedades de RC Microelectrónica -- Ideas de diseño -- Auto shutdown para amplificador de audio reduce el consumo de potencia de los teléfonos celulares -- Instrumentación en telecomunicaciones -- Analizador de calidad de señal -- Definición de una nueva generación de analizadores de redes -- Uso del análisis de señalización en pruebas y control de la red UMTS -- ¿Un nuevo concepto de BER tester? -- El nuevo mini OTDR de Yokogawa marca nuevas pautas en prestaciones, velocidad y facilidad de uso -- Instrumentación virtual -- Instrumentación virtual para test de próxima generación
N.635 Oct/2007 -- Novedades del sector -- Analizador de espectros basado en PDA -- Analizadores de FO portátiles -- Convertidores para aplicaciones en sensores -- Flexis de freescale -- NAND plash SSD con interfaz embebida USB 2.0 -- Nueva cámara termografica para mantenimiento -- Nueva pistola de descargas de ADLER -- Optoacoplador integrado -- Parascope GigE -- Primera solución portátil para test y medidas en WiMAX -- Relé compacto de HV -- Sensor de alterna ultra miniatura para aplicaciones de potencia -- Verificador multifunción de HV -- Ya esta disponible el chip I/O de Rabbit -- Arquitecturas de prueba -- Optimización de las pruebas de sistemas electrónicos para automóviles con LXI -- Generadores digitales de señales -- Comprensión de las metodologías de generación -- Instrumentación para pruebas -- Los osciloscopios compatibles con LXI refuerzan la eficiencia de los sistemas ATE -- Medidas en redes de datos -- Medidas de TDR y parámetros S -- Microondas -- El arte del control de las frecuencias de microondas -- Núcleos RISC programables -- El coprocesador Xgate en microcontroladores de 16 bits
N.636 Nov/2007 -- Novedades -- Acuerdo de distribución entre FLIR y SETUP -- Ampliación de Simulink con librerías de bloques RF lineales y no lineales -- Analizador de radiocomunicaciones -- Bornes para detectores y actuadores -- Centro de diseño para aplicaciones de detección táctil basadas en PIC -- Conexión de cables con protección antiflexión -- Condensadores chip de tántalo sólido --Controlador programable basado en Linux -- Documentación y rotulación de máquinas -- Driver integrado para motores de CC -- Embornaje sin herramientas -- FAs de banco con control analógico inteligente -- FAs de laboratorio -- FAs de laboratorio -- Fuente de baja distorsión para el cumplimiento de normativas EMC -- Generadores de RF y microondas -- KIT de control de TFTs -- Medidas osciloscópicas en condiciones extremas -- Medidor de tolerancia de jitter de 4 canales -- Mejoras en las familias DPO7000/70000 y DSA 70000 de Tektronix -- Microcontroladores de 3V de elevado rendimiento -- Microcontroladores de 8 bit -- Módulo de láser verde -- Modelado de sistemas dinámicos híbridos -- Multímetros de registro de datos RMS -- Nueva familia de terminales MTX -- Nueva plataforma de pruebas RF configurable -- Nueva EEPROM serie SPI -- Nuevo Ethernet analyser -- Nuevo procesador de freescale para entornos SOHO -- Osciloscopio de muestreo con sonda virtual -- Osciloscopios digitales de Rigol -- Poliscopios de mano -- Potenciometros digitales nop volátiles con SPI -- Promax presente en broadcast -- Sensor de corriente alterna -- Sensores USB para la medida de potencia -- Séptimo Emmy para Tektronix -- Starter kit para la familia 78k0/LX3 -- Wiki de semicnductores de microship -- Activos para 3G y WiMAX -- Solución en dos chips de receptor de FI para estaciones base 3G y WiMAX -- Escalabilidad, conectividad, compatibilidad en µ C -- Nueva familia de microcontroladores de 8 y 32 bits FLEXIS de Freescale -- Formación -- Generadores de RF. Comprendiendo e interpretando sus especificaciones -- Ideas de diseño -- Sencillo temporizador wathdog con enclavamiento -- Mejorando la fiabilidad en pasivos -- Mitigación de las grietas por flexión en condensadores de chips multi-capa -- Modulación y medidas en banda ancha -- Superación de múltiples retos en las pruebas de UWB
N.637 Dic/2007 -- Depuración de sistemas -- Las pruebas integradas en PGA aceleran el desarrollo de proyectos -- Ideas de diseño -- Cargador de baterías en aplicaciones con más de una célula -- iluminación -- La iluminación por LED pone de relieve los elementos pasivos -- Medidas de Jitter en SerDes -- Las fuentes de señal ayudan a predecir el comportamiento del jitter en dispositivos de conversión paralelo/serie/paralelo -- Medidas en buses de campo -- Verificación de parámetros eléctricos en buses de campo industriales -- Medidas en mantenimiento -- Multímetros digitales de mano: comprobar y reparar más y mejor -- PCT (Projected capacitive technology) -- Tecnología sensiblesal tacto incorporada al diseño de las maquinas expendedoras del futuro -- Pruebas en automoción -- Tecnología FPGA para pruebas dinámicas de vehículos y otras aplicaciones -- Sensores -- ISL29002: Sensor <luz a digital> con interfaz I2C